Если проанализировать схему установки, представленную на рис. 5, то можно заметить, что ее также можно преобразовать для измерения малых фокусных расстояний (рис. 16). В данном случае анализирующий блок необходимо располагать за точкой фокуса в расходящихся пучках (для положительных компонентов). Принцип измерения остается прежним, но при чисто формальном подходе знак оптической силы на цифровом табло будет противоположным [7].

Рисунок 16

Следует обращать внимание на то, чтобы обе измерительные плоскости находились за точкой фокуса, так как в противном случае будет непонятным что измеряется. Результат может получиться самым фантастическим.

С точки зрения точности измерения следует отметить, что компоненты с малым фокусным расстоянием имеют и малые диаметры. Отсюда следует, что расстояние между щелями непрозрачного экрана будет также небольшим и относительная погрешность его измерения возрастет. Однако, представляется широкая свобода действий в увеличении отрезков b и с в пределах возможностей измерительной системы, а также в увеличении отрезка d между измерительными плоскостями. За счет этого можно несколько уменьшить предельную относительную или вероятностную погрешность измерения. Несмотря на это, как известно, погрешность измерения малых фокусных расстояний всеми имеющимися методами и приборами всегда больше, чем при измерении больших фокусных расстояний.

Аналогичным образом можно использовать для измерения малых фокусных расстояний и установки, представленные на рис. 6 и 7. Поэтому анализировать подробно их не будем.

Как и в предыдущих случаях, можно использовать для измерения отрезков подвижные каретки с одиночными позиционно-чувствительными фотоприемниками и датчиками линейных перемещений. Однако в настоящее время более целесообразно использовать для этих целей, как уже отмечалось, фотоприемные устройства типа жнеек фотодиодов или линеек на ПЗС структурах. В настоящее время длина таких линеек составляет 25 и 50 мм, что вполне достаточно для практических целей. В этом случае резко возрастает быстродействие системы, упрощается конструкция оптико-кинематической части, но несколько возрастает сложность электронных блоков обработки информации.