НОВЫЕ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ ДЛЯ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ |
|||||||||||||
|
|||||||||||||
• ОГЛАВЛЕНИЕ • ТИТУЛ •
|
• Главная • Новости • Специалистам • Студентам • Фотоискусство • Развлечения • Непознанное • Автор • |
||||||||||||
|
|||||||||||||
Все вычисления производятся в блоке обработки информации по заданной программе, куда в качестве постоянных параметров вводятся значения r и k. Как известно, отцентрировать контролируемую сферическую поверхность относительно оси коллиматора возможно с какой-то конечной точностью, т.е. контролируемая сферическая поверхность будет всегда децентрирована относительно оптической оси коллиматора. Вследствие этого будет вводиться погрешность в измерение угла α, а, следовательно, и в измеренное значение радиуса кривизны R. Для устранения этой погрешности диаметрально противоположно приемникам 7 и 8 установлено два позиционно-чувствительных фотоприемника 9 и 10, расстояние между разделительными линиями которых также равно k. В результате этого в блоке обработки информации 11 фиксируется две пары отсчетов с датчика линейных перемещений и вычисляется два радиуса кривизны контролируемой поверхности, а затем его среднее значение. Результаты измерений могут выводится на цифровое табло блока индикации 14 или ленту цифропечатающего устройства 15. Время измерения фактически зависит только от времени перемещения столика из одного положения во второе и с учетом подготовительных операций составит величину порядка 10 сек. Проведем анализ погрешности измерения на данной установке. Для этого примем R = 700 мм, r = 25 мм, k = 10 мм, l = 132,979 мм. В реальных условиях все параметры, входящие в расчетную формулу, будут измерены с какой-то погрешностью. Реально постоянные отрезки r и k можно измерить предварительно с малой погрешностью, порядка 0,002 мм. Поэтому примем Δr = 0,002 мм и Δk = 0,002 мм. Современные датчики линейных перемещений позволяют измерять линейные отрезки с погрешностью также порядка 0,002 мм, т. е. Δl = 0,002 мм. На основании формулы (6) определим радиус кривизны контролируемой поверхности при номинальных значениях параметров . Аналогичным образом определим радиус кривизны контролируемой поверхности при максимальном влиянии погрешностей параметров.
Откуда получим погрешность измерения или . При измерении радиусов кривизны порядка 100 мм при тех же параметрах установки (r = 25 мм и k = 10 мм) величина перемещения будет равна 18, 064 мм. Аналогично предыдущему по формуле (6) определим номинальное значение радиуса кривизны и радиус кривизны при максимальном влиянии погрешностей , откуда ΔR= 0,008 мм; ΔR/R = 0,008/100 = 0,00008 = 0,008%. Как видно из проведенного анализа, предельная относительная погрешность определения радиуса кривизны зависит от величины радиуса. С ростом номинального значения радиуса кривизны погрешность возрастает, что характерно для подавляющего большинства методов измерения. Однако такая точность измерений является вполне удовлетворительной. Следует отметить, что дополнительную погрешность в результаты измерения будет вносить непараллельность между собой двух узких пучков лучей, падающих на контролируемую поверхность. Для ее исключения необходим коллиматор с большим фокусным расстоянием и тщательная его юстировка, или учет ее влияния. На данной установке принципиально можно измерять радиусы кривизны не только выпуклых, но и вогнутых сферических поверхностей. В этом случае узкие пучки параллельных лучей будут отклоняться к оптической оси системы и, поэтому, позиционно-чувствительные фотоприемники необходимо устанавливать в пределах перекрытой непрозрачным экраном центральной части объектива коллиматора (рис. 22). Установка будет работать в том же режиме.
Рисунок 22 Следует, однако, отметить, что при измерении сравнительно небольших радиусов кривизны контролируемая поверхность должна располагаться ближе к объективу коллиматора.
|
| |
|
||||||||||
|
|||||||||||||
• ОГЛАВЛЕНИЕ • ТИТУЛ • | • Главная • Новости • Специалистам • Студентам • Фотоискусство • Развлечения • Непознанное • Автор • |
||||||||||||
|
|||||||||||||
|
© 2003 - 2010 miig@rambler.ru |
|